Schnelle, winkelabhängige Charakterisierung von NIR-Emittern

Waldbronn, 05.07.2019 (PresseBox) – Polytec stellt zwei neue NIR-Emitter-Charakterisierungssysteme des Herstellers Eldim vor.
Eldim entwickelte die Systeme für die Messung winkelabhängiger Eigenschaften von NIR-Lichtquellen. Sie eignen sich sowohl für den R&D-Bereich als auch für die Qualitätskontrolle in der Produktion. Beide Geräte messen berührungslos. Sie erzeugen mit einer einzigen Messung ein vollständiges Abbild innerhalb des Betrachtungswinkels von ±70° bzw. ±40° bei einer hervorragenden Winkelauflösung von 0,05°. Die Messdauer zur Charakterisierung des Fernfeldes liegt unter einer halben Sekunde. Damit unterscheiden sie sich erheblich von herkömmlichen Methoden, die für vergleichbare Messungen mit einem Goniometer mindestens mehrere Stunden benötigen.
Das VCProbe-NIR-STG dient der präzisen Analyse der Eigenschaften von IRED-Punktprojektoren und Flächenstrahlern, wie sie in der 3D-Bildgebung mittels Stereoskopie oder strukturiertem Licht eingesetzt werden.
Das OFScope-NIR-DSD wurde speziell für LIDAR- und VCSEL-Komponenten entwickelt und misst bei Wellenlängen von 850, 905 und 940 nm und einem Arbeitsabstand von 30 mm.
Die genaue Charakterisierung von NIR-Quellen wie Oberflächen-Emittern wird im LIDAR-Bereich zur Sensor-Analyse bei autonomen Fahrzeugen oder in der 3D-Fernerkundung eingesetzt. Aber auch die NIR-basierte Gesichtserkennung, zum Beispiel in Smartphones oder sicherheitsrelevanten Banking-Anwendungen, kann durch diese Technologie perfektioniert werden. Apple setzt die Eldim-Systeme bei der Produktion des iPhone X zur Charakterisierung seiner Face-ID ein.
Polytec bietet Anwendungsberatung, Testmessungen, Vertrieb und Service für alle Eldim-Systeme.

Unternehmen: POLYTEC GmbH


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